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W6型全譜直讀光譜儀![]()
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产品说明
全新立式全譜光譜采用標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)計(jì)和制造工藝技術(shù),采用全數(shù)字技術(shù),替代龐大的光電倍增管(PMT)模擬技術(shù),采用真空光學(xué)室設(shè)計(jì)及全數(shù)字激發(fā)光源、CCD檢測(cè)器,高速數(shù)據(jù)讀出系統(tǒng),使儀器具有高的性能、低的檢出限、良好的長(zhǎng)期穩(wěn)定性和重復(fù)性。適用于金屬制造業(yè)、加工業(yè)及金屬冶煉業(yè)用于質(zhì)量監(jiān)控、材料牌號(hào)識(shí)別、材料研究和開(kāi)發(fā)的主要設(shè)備之一。 金屬材料領(lǐng)域先進(jìn)的全譜直讀光譜儀 應(yīng)用領(lǐng)域: 鋼鐵行業(yè)、有色金屬、合金鑄造、機(jī)械加工、商檢質(zhì)檢、材料研究 檢測(cè)基體: 鐵基、銅基、鋁基、鎳基、鎂基、鈦基、鋅基、鉛基、錫基、銀基。 全新立式全譜光譜采用標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)計(jì)和制造工藝技術(shù),采用全數(shù)字技術(shù),替代龐大的光電倍增管(PMT)模擬技術(shù),采用真空光學(xué)室設(shè)計(jì)及全數(shù)字激發(fā)光源、CCD檢測(cè)器,高速數(shù)據(jù)讀出系統(tǒng),使儀器具有較高的性能、較低的檢出限、良好的長(zhǎng)期穩(wěn)定性和重復(fù)性。適用于金屬制造業(yè)、加工業(yè)及金屬冶煉業(yè)用于質(zhì)量監(jiān)控、材料牌號(hào)識(shí)別、材料研究和開(kāi)發(fā)的主要設(shè)備之一。 主要技術(shù)參數(shù):
技術(shù)特點(diǎn) 優(yōu)化設(shè)計(jì)的真空光學(xué)系統(tǒng) 1、整體光學(xué)室裝置、帕邢-龍格結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),所有譜線集成在羅蘭圓上; 2、直射式光學(xué)技術(shù)及透鏡MgF2材料,保證C、S、P、N紫外波長(zhǎng)的能量。 全數(shù)字激發(fā)光源 1、全數(shù)字、高能預(yù)燃技術(shù)(HEPS),不同樣品設(shè)置不同的激發(fā)參數(shù),提高樣品的測(cè)量,提高樣品激發(fā)速度,提高火花穩(wěn)定性,使樣品有更好的重現(xiàn)性。 功能性設(shè)計(jì)的激發(fā)裝置 1、集成氣路、噴射電極技術(shù),開(kāi)放式銅火花臺(tái),不僅保證樣品測(cè)量精度還能購(gòu)測(cè)量各種復(fù)雜形狀的樣品(含線材); 2、單板式透鏡裝置設(shè)計(jì),一般人員都能方便對(duì)激發(fā)臺(tái)進(jìn)行進(jìn)行維護(hù)和透鏡的清洗。 高集成、高速度讀出系統(tǒng) 1、高性能CCD固態(tài)檢測(cè)技術(shù),波段內(nèi)譜線全譜接收; 2、FPGA及高速數(shù)據(jù)通訊技術(shù),數(shù)據(jù)讀入功能強(qiáng)大,檢測(cè)數(shù)據(jù)整體讀入時(shí)間短。 直觀、易操作的分析軟件 1、基于WINDOWS系統(tǒng)的多國(guó)語(yǔ)言的CCD全譜分析軟件的管理和控制整個(gè)測(cè)量過(guò)程,為用戶提供強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理能力和測(cè)試報(bào)告輸出能力; 2、儀器在軟件中配備多條工廠校正曲線及更多材質(zhì)分析及先進(jìn)的解決方案; 3、儀器實(shí)現(xiàn)全譜分析,智能扣干擾,扣暗電流、背景和噪聲的算法,極大的提高了儀器的分析能力。 |